Laboratorio de Nanociencia y Nanotecnología

Consiste en secar, cortar y metalizar aquellas muestras que requieran ser analizadas en el microscopio electrónico. 

• Desecado de punto crítico (preparación de muestras): extracción de la humedad de las muestras. Estas son sumergidas en alcohol en diferentes porcentajes de pureza, para luego ser reemplazado por CO2 líquido, el cual obtiene su punto de ebullición a condiciones relativamente fáciles de obtener y que no afectan la muestra (1.000 psi y 30°C).
• Corte de muestras: por medio del micrótomo.
• Recubrimiento (preparación de muestras): recubrimiento con una capa delgada de material conductor (oro, paladio, plata o carbono) a muestras que no son conductoras, por medio de bombardeo iónico. Este procedimiento es necesario cuando las muestras que no son conductoras requieren ser observadas en microscopios electrónicos.

Tiene como objetivo observar zonas específicas de la muestra y capturar imágenes para observar su morfología y topografía;  también puede ser requerido un análisis químico elemental o incluso mapeos.

• Análisis SEM: imágenes de alta definición hasta de 1´000.000 de aumentos y en escalas de hasta 1 nanómetro; Hasta 30.000 Volts de aceleración. Uso de detectores: Secundarios, Retrodispersados, Secundarios InBeam, LVSTD (para bajo vacío). ( Este servicio tiene la particularidad que se puede prestar de manera remota por internet).
•  Análisis microscopio metalográfico: análisis de muestras con aumentos que varían entre 50 y 2000 aumentos, especialidad para metales y aleaciones.
• Análisis EDX: obtención de la composición química de la superficie de las muestras a través de un detector especial de electrones de rayos X por EDS,  logrando obtener espectros y hacer cuantificación, mapeos e hipermapeos, entre otros.

Clases teórico-prácticas en temas relacionados con microscopía electrónica de barrido.